IMAGE PLANE DETECTION USING LASER SPECKLE PATTERNS

被引：8

作者：

SAWATARI, T ^{[1
]}

ELEK, AC ^{[1
]}

机构：

[1] BENDIX RES LABS,SOUTHFIELD,MI 48076

来源：

APPLIED OPTICS | 1973年 / 12卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.12.000881

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：881 / 883

页数：3

共 7 条

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