DETERMINATION OF DEVICE NOISE PARAMETERS

被引：177

作者：

LANE, RQ

机构：

[1] Res. and Develop. Lab., Fairchild Semiconductor

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1969年 / 57卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1969.7311

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

A novel noise measurement technique is outlined which results in data that directly give the noise parameters of the test device when processed by a simple computer program. Copyright © 1969 by The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.

引用

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