A NEW APPROACH TO INFERENCE FROM ACCELERATED LIFE TESTS

被引：16

作者：

PROSCHAN, F ^{[1
]}

SINGPURWALLA, ND ^{[1
]}

机构：

[1] GEORGE WASHINGTON UNIV,DEPT OPERAT RES,WASHINGTON,DC 20052

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1980年 / 29卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TR.1980.5220740

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：98 / 102

页数：5

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共 4 条

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