A NEW X-RAY DIFFRACTION METHOD FOR STUDYING IMPERFECTIONS OF CRYSTAL STRUCTURE IN POLYCRYSTALLINE SPECIMENS

被引：10

作者：

REIS, AJ

SLADE, JJ

WEISSMANN, S

机构：

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1951年 / 22卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1700025

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：665 / 672

页数：8

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共 2 条

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