A FRICTIONAL FORCE MICROSCOPE CONTROLLED WITH AN ELECTROMAGNET

被引：22

作者：

KANEKO, R

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY | 1988年 / 152卷

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1988.tb01397.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

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页码：363 / 369

页数：7

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