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EXCESS NOISE IN FIELD-EFFECT TRANSISTORS
被引:10
作者
:
HALLADAY, HE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HALLADAY, HE
BRUNCKE, WC
论文数:
0
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0
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0
BRUNCKE, WC
机构
:
来源
:
PROCEEDINGS OF THE IEEE
|
1963年
/ 51卷
/ 11期
关键词
:
D O I
:
10.1109/PROC.1963.2660
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:1671 / &
相关论文
共 3 条
[1]
NOISE MEASUREMENTS IN FIELD-EFFECT TRANSISTORS
BRUNCKE, WC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BRUNCKE, WC
[J].
PROCEEDINGS OF THE IEEE,
1963,
51
(02)
: 378
-
&
[2]
VANDERZIEL A, 1962, P IRE, V50, P1808
[3]
VANDERZIEL A, TO BE PUBLISHED
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共 3 条
[1]
NOISE MEASUREMENTS IN FIELD-EFFECT TRANSISTORS
BRUNCKE, WC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BRUNCKE, WC
[J].
PROCEEDINGS OF THE IEEE,
1963,
51
(02)
: 378
-
&
[2]
VANDERZIEL A, 1962, P IRE, V50, P1808
[3]
VANDERZIEL A, TO BE PUBLISHED
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