ELECTRIC CONTACTS .1. APPLICATION OF INTERFERENCE FRINGE MICROSCOPY TO ELECTRIC CONTACT PROBLEMS

被引：7

作者：

CUTHRELL, RE ^{[1
]}

TIPPING, DW ^{[1
]}

机构：

[1] SANDIA LABS,ALBUQUERQUE,NM 87115

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1973年 / 44卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1662747

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：3277 / 3283

页数：7

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