SECONDARY EMISSION BEAM MONITORS FOR 0.5 TO 3.5 MEV ELECTRONS

被引：18

作者：

VANHUYSE, VJ

WATTECAMPS, ED

VANDEVIJVER, RE

VANPRAET, GJ

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1962年 / 15卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(62)90027-7

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：59 / 62

页数：4

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共 2 条

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