DETERMINATION OF FILM THICKNESS AND REFRACTIVE-INDEX OF FILMS AND SUBSTRATES BY MEANS OF ANGULAR MODULATION IN REFLECTION

被引：4

作者：

KONOVA, A

BORISSOV, M

DASKALOV, K

机构：

[1] UNIV SOFIA,FAC PHYS,SOFIA 26,BULGARIA

[2] INST PHYS,SOFIA,BULGARIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(75)90008-5

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：83 / 87

页数：5

共 4 条

ABELES, F .

JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM, 1950, 11 (07) :310-314

RUIZURBI.M ;

SPARROW, EM ;

ECKERT, ERG .

RUIZURBIETA, M ;

SPARROW, EM ;

ECKERT, ERG .

[4]

RUIZURBIETA M, 1972, J OPT SOC AM, V62, P8