STRAIN COMPONENTS OBTAINED FROM CONTRAST MEASUREMENT OF HOLOGRAPHIC FRINGE PATTERNS

被引：5

作者：

EBBENI, J

CHARMET, JC

机构：

[1] UNIV LIBRE BRUXELLES, B-1050 BRUSSELS, BELGIUM

[2] ECOLE SUPER PHYS & CHIM IND, F-75231 PARIS 05, FRANCE

来源：

APPLIED OPTICS | 1977年 / 16卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.16.002543

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页码：2543 / 2545

页数：3

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共 3 条

[1]

EBBENI J, 1974, 5TH INT C EXPT STRES

[2]

Erf R., 1974, HOLOGRAPHIC NONDESTR

[3]

ROBERTSON ER, 1976, ENGINEERING USES COH