FACTORS AFFECTING THE METROLOGY OF RETROREFLECTING MATERIALS

被引：6

作者：

VENABLE, WH

STEPHENSON, HF

TERSTIEGE, H

机构：

[1] 3M UNITED KINGDOM LTD,TRAFF CONTROL PROD LAB,BRACKNELL 12912 1JA,ENGLAND

[2] BUNDESANSTALT MAT PRUFUNG,D-1000 BERLIN 45,FED REP GER

来源：

APPLIED OPTICS | 1980年 / 19卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.19.001242

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1242 / 1246

页数：5

共 10 条

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