未找到相关数据
YIELD IMPLICATIONS AND SCALING LAWS FOR SUBMICROMETER DEVICES
被引：5
作者：
FERRISPRABHU, AV
机构：
[1] IBM, Essex Junction, VT, USA, IBM, Essex Junction, VT, USA
关键词：
D O I：
10.1109/66.4374
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
19
引用
收藏
页码：49 / 61
页数：13
相关论文