INTENSIFIER SILICON VIDICON SPECTROPHOTOMETER FOR LINE-PROFILE STUDIES IN ASTRONOMY

被引：2

作者：

JEFFERS, S

WELLER, WG

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1981年 / 20卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.20.000665

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：665 / 669

页数：5

共 9 条

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