USE OF A PULSED LASER AS AN AID TO TRANSIENT UPSET TESTING OF I2L LSI MICROCIRCUITS

被引：14

作者：

ELLIS, TD

KIM, YD

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1978年 / 25卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1978.4329559

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1489 / 1493

页数：5

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共 3 条

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