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ON THE NEW METHOD OF MEASURING DIELECTRIC CONSTANT AND LOSS ANGLES OF SEMICONDUCTORS
被引：10
作者：
ICHIJO, B
机构：
关键词：
D O I：
10.1063/1.1721270
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
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页码：307 / 311
页数：5
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