HIGH-ACCURACY WIDE-RANGE MEASUREMENT METHOD FOR DETERMINATION OF COMPLEX PERMITTIVITY IN REENTRANT CAVITY .B. EXPERIMENTAL-ANALYSIS OF MEASUREMENT ERRORS

被引：13

作者：

KACZKOWSKI, A

MILEWSKI, A

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES | 1980年 / 28卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1980.1130046

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：228 / 231

页数：4

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共 2 条

[1]

KACZKOWSKI A, 1980, HIGH ACCURACY WIDE R, V28, P225

[2]

MILEWSKI A, 1969, PRZEGL ELEKTRON, P498