MODIFIED ZONE-PLATE INTERFEROMETER FOR TESTING ASPHERIC SURFACES

被引：6

作者：

TANIGAWA, H

NAKAJIMA, K

MATSUURA, S

机构：

来源：

OPTICA ACTA | 1980年 / 27卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1080/713820404

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1327 / 1334

页数：8

共 6 条

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