THIN-FILM OPTICAL-CONSTANTS DETERMINED FROM INFRARED REFLECTANCE AND TRANSMITTANCE MEASUREMENTS

被引：45

作者：

BUFFETEAU, T ^{[1
]}

DESBAT, B ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV BORDEAUX 1, SPECT MOLEC & CRISTALLINE LAB, CNRS, UA 124, F-33405 TALENCE, FRANCE

来源：

关键词：

D O I：

10.1366/0003702894203813

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1027 / 1032

页数：6

共 28 条

[1]

ABELES F, 1972, OPTICAL PROPERTIES S, P591

[2]

Abeles F., 1967, ADV OPTICAL TECHNIQU, P143

BERREMAN, DW .

PHYSICAL REVIEW, 1963, 130 (06) :2193-&

BERTIE, JE ;

EYSEL, HH .

[5]

Born M., 2019, PRINCIPLES OPTICS, V7th edn

ELIZALDE, E ;

RUEDA, F .

[7]

FROHLICH H, 1963, THEORY DIELECTRICS, P8

GREENLER, RG .

GREENLER, RG .

[10]

HEAVENS OS, 1954, OPTICAL PROPERTIES T, pCH4