TESTING DIGITAL-ANALOG AND ANALOG-DIGITAL CONVERTERS

被引：21

作者：

NAYLOR, JR

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS | 1978年 / 25卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1109/TCS.1978.1084509

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：526 / 538

页数：13

共 11 条

[1]

BERG A, 1974, ELECTRON DES 0401, P64

[2]

BRUCK D, 1974, DATA CONVERSION HDB, P2

[3]

CATE T, 1971, EDN EEE 0601, P34

[4]

GADWAY R, 1973, 58 BURR BROWN APPL N

[5]

GORDON B, 1969, EEE FEB, P54

[6]

HAVENER P, 1975, ELECTRON DES 0802, P58

[7]

HOWELL G, 1977, ELECTRONICS 0818, P117

KAMATH, BY ;

MEYER, RG ;

GRAY, PR .

[9]

PRAZAK P, UNPUBLISHED

[10]

SHEINGOLD D, 1972, ANALOG DIGITAL CONVE, P2