Electron diffraction studies of thin films - I - Structure of very thin films

被引:64
作者
Germer, LH [1 ]
机构
[1] Bell Tel Labs, New York, NY USA
来源
PHYSICAL REVIEW | 1939年 / 56卷 / 01期
关键词
D O I
10.1103/PhysRev.56.58
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:58 / 71
页数:14
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