FAULT-DETECTION IN CMOS CIRCUITS BY CONSUMPTION MEASUREMENT

被引：3

作者：

JACOMINO, M ^{[1
]}

RAINARD, JL ^{[1
]}

DAVID, R ^{[1
]}

机构：

[1] CTR NATL ETUD TELECOMMUN,F-38243 MEYLAN,FRANCE

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT | 1989年 / 38卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/19.32191

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：773 / 778

页数：6

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