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AN ELECTRON-IMPACT STORAGE ION-SOURCE FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS
被引:46
作者
:
GRIX, R
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0
GRIX, R
GRUNER, U
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GRUNER, U
LI, G
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LI, G
STROH, H
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STROH, H
WOLLNIK, H
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WOLLNIK, H
机构
:
来源
:
INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES
|
1989年
/ 93卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0168-1176(89)80121-1
中图分类号
:
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
O56 [分子物理学、原子物理学];
学科分类号
:
070203 ;
070304 ;
081704 ;
1406 ;
摘要
:
引用
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页码:323 / 330
页数:8
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Grix R, 1988, RAPID COMMUN MASS SP, V2, P83
[2]
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LI G, 1987, THESIS J LIEBIG U GI
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MCLAREN, IH
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1955,
26
(12)
: 1150
-
1157
[6]
Wollnik H., 1987, OPTICS CHARGED PARTI
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1955,
26
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-
1157
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Wollnik H., 1987, OPTICS CHARGED PARTI
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