THE STUDY OF SEMICONDUCTOR CRYSTAL PERFECTION BY X-RAY DIFFRACTION METHODS

被引：3

作者：

HOLMES, PJ

机构：

来源：

BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1955年 / 6卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1088/0508-3443/6/5/109

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：180 / 181

页数：2

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共 3 条

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