MICROSCALE DEGRADATION IN (GAAL)AS DOUBLE-HETEROSTRUCTURE DIODE-LASERS

被引:31
作者
KATO, D [1 ]
机构
[1] DEPT COMMUN,COMMUN RES CTR,OTTAWA K2H 8S2,ONTARIO,CANADA
关键词
D O I
10.1063/1.89789
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:588 / 590
页数:3
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