IMPROVED SCANNING SYSTEM FOR A HIGH-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPE

被引：12

作者：

STROJNIK, A ^{[1
]}

SPARROW, TG ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CAMBRIDGE,CAVENDISH LAB,CAMBRIDGE CB2 3RQ,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1977年 / 10卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/10/5/024

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：502 / 504

页数：3

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