CORRELATION BETWEEN ELECTRICAL AND PHOTOLUMINESCENCE MEASUREMENTS IN HIGH-QUALITY P-TYPE CDTE

被引：15

作者：

SETO, S

TANAKA, A

KAWASHIMA, M

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.341406

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：3658 / 3662

页数：5

共 16 条

SEN, S ;

KONKEL, WH ;

TIGHE, SJ ;

BLAND, LG ;

SHARMA, SR ;

TAYLOR, RE .

[12] HIGH-PURITY CDTE SINGLE-CRYSTALS GROWN FROM SOLUTIONS [J].

TAGUCHI, T ;

SHIRAFUJI, J ;

INUISHI, Y .

[13]

TANAKA A, 1986, MATERIAL RES SOC S P, V90, P111

TRIBOULET, R ;

MARFAING, Y ;

CORNET, A ;

SIFFERT, P .

[15] RESISTIVITY MEASUREMENTS ON GERMANIUM FOR TRANSISTORS [J].

VALDES, LB .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF RADIO ENGINEERS, 1954, 42 (02) :420-427

[16]

ZANIO K, 1978, SEMICONDUCT SEMIMET, V13, P53