TESTING OF POLLUTED INSULATORS - PRESENT SITUATION AND PROBLEMS OF FUTURE

被引：6

作者：

SFORZINI, M

机构：

来源：

JOURNAL OF THE FRANKLIN INSTITUTE-ENGINEERING AND APPLIED MATHEMATICS | 1972年 / 294卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1016/0016-0032(72)90097-X

中图分类号：

TP [自动化技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：437 / &

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[1]

ALSTON LL, 1963, P IEE, V110

[2]

BAATZ H, 1964, CIGRE212 PAP

[3]

BERNARDELLI PD, CIGRE3371 DOC

[4]

BOEHME H, 1966, CIGRE407 PAP

[5]

BOEHNE EW, 1967, WIN IEEE POW M, P67

[6]

BOEHNE EW, 1966, SUM IEEE POW M, P66

[7]

BOSSI A, 1971, AEI609 REND RAPP

[8]

CARRARA G, 1968, WIN IEEE POW M

[9]

CARRARA G, 1969, SEP EL INS C BOST

[10]

CAUSSE L, 1967, REVUE GENERALE ELECT, V76