SIMPLE SELF-TESTING DECODER CHECKING CIRCUIT

被引：11

作者：

CARTER, WC

DUKE, KA

JESSEP, DC

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1971年 / C 20卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1109/T-C.1971.223148

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：1413 / &

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共 3 条

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