REALISTIC BUILT-IN SELF-TEST FOR STATIC RAMS

被引：14

作者：

DEKKER, R ^{[1
]}

BEENKER, F ^{[1
]}

THIJSSEN, L ^{[1
]}

机构：

[1] DELFT UNIV TECHNOL,DEPT ELECT ENGN,DELFT,NETHERLANDS

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1989年 / 6卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/54.20387

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：26 / 34

页数：9

共 11 条

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