MESSUNG DER ABSOLUTEN UBERGANGSWAHRSCHEINLICHKEITEN EINIGER SILIZIUM-I-SOWIE, SILIZIUM-II-SOWIE EINIGER CHLOR-I-LINIEN UND CHLOR-II-LINIEN

被引：40

作者：

HEY, P

机构：

来源：

ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK | 1959年 / 157卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1007/BF01375151

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：79 / 88

页数：10

共 9 条

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