SIMULATION OF COSMIC RAY-INDUCED SOFT ERRORS IN CMOS-SOS MEMORIES

被引：7

作者：

BRUCKER, GJ ^{[1
]}

CHATER, W ^{[1
]}

KOLASINSKI, WA ^{[1
]}

机构：

[1] AEROSPACE CORP,LOS ANGELES,CA 90009

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1980年 / 27卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1980.4331057

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1490 / 1493

页数：4

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共 7 条

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