CHARACTERISTICS OF CMOS-BULK AND SOS MEMORIES IN A TRANSIENT ENVIRONMENT

被引：8

作者：

BRUCKER, GJ

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1977年 / 24卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1977.4329194

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：2209 / 2212

页数：4

相关论文

共 1 条

[1] GREGORY BL, 1973, IEEE T NUCLEAR DEVIC, V20, P393