COMPARATOR METHOD FOR OPTICAL LIFETIME MEASUREMENTS ON SEMICONDUCTORS

被引:5
作者
ARMSTRONG, HL
机构
关键词
D O I
10.1063/1.1746486
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
收藏
页码:202 / 202
页数:1
相关论文
共 1 条