An electron microscope for studying thermal and secondary electron emission

被引：2

作者：

Meschter, E ^{[1
]}

机构：

[1] Cornell Univ, Ithaca, NY USA

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1938年 / 9卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1752339

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页数：4

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共 3 条

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