QUICK ACCURATE METHOD TO MEASURE DIELECTRIC-CONSTANT OF MICROWAVE INTEGRATED CIRCUIT SUBSTRATES

被引：26

作者：

HOWELL, JQ ^{[1
]}

机构：

[1] NASA,LANGLEY RES CTR,HAMPTON,VA 23365

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1973.1127950

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：142 / 145

页数：4