ANALYSIS OF DENDRITE PATTERNS BY USE OF AN ADAPTIVE SCAN SYSTEM

被引：5

作者：

WYSS, UR

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1972年 / 95卷 / APR期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1972.tb03726.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：269 / &

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