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QUIESCENT POWER-SUPPLY CURRENT MEASUREMENT FOR CMOS IC DEFECT DETECTION
被引：52
作者：
HAWKINS, CF
SODEN, JM
FRITZEMEIER, RR
HORNING, LK
机构：
关键词：
D O I：
10.1109/41.19071
中图分类号：
TP [自动化技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页码：211 / 218
页数：8
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