SPATIAL-RESOLUTION AND DETECTION SENSITIVITY IN MICROANALYSIS BY ELECTRON-ENERGY LOSS SELECTED IMAGING

被引:63
作者
ADAMSONSHARPE, KM [1 ]
OTTENSMEYER, FP [1 ]
机构
[1] ONTARIO CANC INST,TORONTO M4X 1K9,ONTARIO,CANADA
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1981年 / 122卷 / JUN期
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1981.tb01271.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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页码:309 / 314
页数:6
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