TUNNELING RECOMBINATION OF TRAPPED ELECTRONS AND HOLES IN KCL-AGCL AND KCL-TLCL

被引:227
作者
DELBECQ, CJ [1 ]
TOYOZAWA, Y [1 ]
YUSTER, PH [1 ]
机构
[1] ARGONNE NATL LAB,ARGONNE,IL 60439
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1974年 / 9卷 / 10期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.9.4497
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页码:4497 / 4505
页数:9
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