X-ray diffraction by a film of counted molecular layers

被引：20

作者：

Holley, C ^{[1
]}

Bernstein, S ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Chicago, Ryerson Phys Lab, Chciago, IL USA

来源：

PHYSICAL REVIEW | 1936年 / 49卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRev.49.403.2

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

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共 1 条

[1] KATHARINE B, 1935, J AM CHEM SOC, V57, P1007