Studies in interferometry - II. The construction, testing and use of reflection echelons for the visible and ultra-violet regions

被引:25
作者
Williams, WE
机构
来源
PROCEEDINGS OF THE PHYSICAL SOCIETY | 1933年 / 45卷
关键词
D O I
10.1088/0959-5309/45/5/308
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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页码:699 / 726
页数:29
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