CHARACTERIZATION OF THIN-FILMS OF V2O4 USING X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY

被引：3

作者：

NORIAN, KH

HAZELL, LB

机构：

[1] ROYAL MIL COLL SCI, DEPT PHYS, SWINDON SN6 8LA, WILTSHIRE, ENGLAND

[2] UNIV SURREY, DEPT MET & MAT TECHNOL, GUILDFORD GU2 5XH, SURREY, ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(78)90403-0

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：L9 / L11

页数：3

共 6 条

[1]

BONGERS PF, 1966, PHILIPS RES REP, V21, P387

BRUNDLE, CR .

[3] ELECTRICAL CONDUCTIVITY OF VANADIUM OXIDES [J].

KACHI, S ;

TAKADA, T ;

KOSUGE, K .

[4]

LARSSON R, 1973, CHEM SCRIPTA, V3, P88

MORIN, FJ .

[6]

VANSTEENSEL K, 1967, PHILIPS RES REP, V22, P170