Precision-measurements in the X-ray spectra.

被引：17

作者：

Siegbahn, M

机构：

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE | 1919年 / 37卷 / 222期

关键词：

D O I：

10.1080/14786440608635923

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：601 / 612

页数：12

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