ION DETECTION USING A CONTINUOUS CHANNEL ELECTRON MULTIPLIER

被引：13

作者：

YELLIN, E

YIN, LI

ADLER, I

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1970年 / 41卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1684265

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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页数：1

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[1] ADAMS J, 1965, ELECTRON ENG, V37, P180
[2] CECKOWSKI D, 1964, IEEE INT CONV REC, V12, P25
[3] CHANNELTRON FATIGUE AND EFFICIENCY FOR PROTONS AND ELECTRONS
EGIDI, A
MARCONERO, R
PIZZELLA, G
SPERLI, F
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1969, 40 (01) : 88 - +
[4] LOW ENERGY CHARGED-PARTICLE DETECTION USING CONTINUOUS-CHANNEL ELECTRON MULTIPLIER
EVANS, DS
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1965, 36 (03) : 375 - +
[5] CONTINUOUS CHANNEL ELECTRON MULTIPLIER
GOODRICH, GW
WILEY, WC
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1962, 33 (07) : 761 - &
[6] WILEY WC, 1962, IRE T NUCL SCI, VNS9, P103, DOI DOI 10.1109/TNS2.1962.4315981