学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
SENSITIVE 4 MM LECHER WIRE INTERFEROMETER FOR ELECTRON CONCENTRATION MEASUREMENTS IN LOW-DENSITY PLASMAS
被引:12
作者
:
POLMAN, J
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
POLMAN, J
机构
:
来源
:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1967年
/ 38卷
/ 11期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1720623
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:1631 / &
相关论文
共 4 条
[1]
HEALD MA, 1965, PLASMA DIAGNOSTICS M, pCH6
[2]
NEW MICROWAVE INTERFEROMETRIC DEVICE USING LECHER WIRES FOR HIGH SPATIAL RESOLUTION
MAKIOS, W
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MAKIOS, W
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1967,
38
(03)
: 352
-
&
[3]
SOMMERFELD A, 1964, ELECTRODYNAMICS, P177
[4]
YAHAGI E, 1966, B ELECTROTECH LAB TO, V30, P55
←
1
→
共 4 条
[1]
HEALD MA, 1965, PLASMA DIAGNOSTICS M, pCH6
[2]
NEW MICROWAVE INTERFEROMETRIC DEVICE USING LECHER WIRES FOR HIGH SPATIAL RESOLUTION
MAKIOS, W
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MAKIOS, W
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1967,
38
(03)
: 352
-
&
[3]
SOMMERFELD A, 1964, ELECTRODYNAMICS, P177
[4]
YAHAGI E, 1966, B ELECTROTECH LAB TO, V30, P55
←
1
→