MICROSTRUCTURE OF CR100-XALX ALLOYS (10 AT PERCENT-LESS-THAN-OR-ALMOST-EQUAL-TO-X-LESS-THAN-OR-ALMOST-EQUAL-TO-33) AT PERCENT STUDIED BY MEANS OF TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY AND DIFFRACTION .2. DISCOVERY OF A NEW PHASE

被引：25

作者：

DENBROEDER, FJA

VANTENDELOO, G

AMELINCKX, S

HORNSTRA, J

DERIDDER, R

VANLANDUYT, J

VANDAAL, HJ

机构：

[1] UNIV ANTWERP,B-2020 ANTWERP,BELGIUM

[2] CEN SCK,B-2400 MOL,BELGIUM

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1981年 / 67卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210670123

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页数：16