MICROWAVE MEASUREMENT OF CONDUCTIVITY AND PERMITTIVITY OF SEMICONDUCTOR SPHERES BY CAVITY PERTURBATION TECHNIQUE

被引：9

作者：

MANSINGH, A ^{[1
]}

PARKASH, A ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV DELHI,HANS RAJ COLL,DEPT PHYS,DELHI 110007,INDIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1981.1130288

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：62 / 65

页数：4

共 8 条

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