A photographic method of determining atomic structure factors

被引：8

作者：

Froman, DK ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Chicago, Ryerson Phys Lab, Chicago, IL USA

来源：

PHYSICAL REVIEW | 1930年 / 36卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRev.36.1330

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：1330 / 1338

页数：9

共 7 条

[1]

COMPTON AH, XRAYS ELECT, P165

[2]

COMPTON AH, XRAYS ELECT, P164

[3]

COMPTON AH, XRAYS ELECT, P131

Havighurst, RJ .

PHYSICAL REVIEW, 1926, 28 (05) :0869-0881

[5] A quantitative study of the reflexion of X-rays by sylvine [J].

James, RW ;

Brindley, GW .

[6] MICROMAT - International Conference on Micro Materials [J].

Michel, B ;

Schubert, A .

[7] The electron distribution of magnesium oxide [J].

Wollan, EO .

PHYSICAL REVIEW, 1930, 35 (09) :1019-1027