PROCEEDINGS OF THE 4TH INTERNATIONAL-CONFERENCE ON PARTICLE INDUCED X-RAY-EMISSION AND ITS ANALYTICAL APPLICATIONS TALLAHASSEE, FL, USA, JUNE 9-13, 1986 - CONFERENCE SUMMARY

被引：7

作者：

JOHANSSON, SAE

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS | 1987年 / 22卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0168-583X(87)90284-9

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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