CREEP AT INTERMEDIATE TEMPERATURES - INSITU STUDY OF EVOLUTION OF CELL BOUNDARIES IN HIGH-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPE

被引：25

作者：

MYSHLYAEV, MM ^{[1
]}

CAILLARD, D ^{[1
]}

MARTIN, JL ^{[1
]}

机构：

[1] CNRS,OPT ELECTR LAB,F-31055 TOULOUSE,FRANCE

来源：

SCRIPTA METALLURGICA | 1978年 / 12卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0036-9748(78)90155-2

中图分类号：

TF [冶金工业];

学科分类号：

0806 ;

摘要：

引用

页码：157 / 160

页数：4

共 9 条

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